阿贝误差是指在测量过程中，因不符合阿贝原则而产生的误差，测量仪器的轴线与待测工件的轴线须在同一直线上。否则即产生误差，此误差称为阿贝误差。通常，假如测量仪器的轴线与待测工件的轴线无法在一起时，则须尽量缩短其距离，以减少其误差值。
产生原因：
测量仪器的轴线与待测工件的轴线须在同一直线上。否则即产生误差。
影像仪通过光学成像原理进行非接触测量，阿贝数是镜片设计的重要参数，也是检验中不可忽视的因素。阿贝数是表征色散的重要指标，它也称为色散系数。通常阿贝误差产生的原因主要是镜片的特征造成测量仪器的轴线与待测工件的轴线无法完美对应成像有所偏差。
举例说明：
当量仪设计或进行测量时,由于量仪的结构限制,往往使量仪的测量轴线不能与基淮轴线在同一条直线七,这样就必然会因为不符合阿贝原理而产生理论误差,这种误差,我们通常称之谓阿贝误差,亦称一次误差。 以纵向比长仪为例,如图1所示,由于基淮尺与被侧尺并列,它们不在同一条直线上,即违背了 S丫比旱沙导执一J二S二心甲 、S·宙基准尺-孩目尺阿贝原则,这时由于显微镜座与导轨之间不可避免地会有间隙,另外导轨本身也存有不直度误差,此时则将引起显微镜1与2之间的偏移,从而产生测量误差△。 从图1可知:△=S·tg甲式中:S—两个显微镜座之间的中心距。 中—显微镜座与导轨之间的相对倾斜角。 由于甲角很小,则tg沪.甲(弧度)因此:△“S·甲 假如我们用此种比长仪测量一米刻线尺寸,如果两个显微镜座之间的中心距S二150毫米,显微镜座与导轨间的相对倾斜角切=10’,=0.00。。.185 (弧度),则所引起的测量误差: △二1 SOx]03 x 0.0000485=7拼一,一34一这样大的测量误差,在精密测量中是不能轻易略去的。
解决途径：
利用阿贝误差的对称性等性质，运用非接触式、小位移、电容性的传感器(124、128、130、131、132)以决定归由于一接近线性机械级(56、58)的俯仰(20)、偏航(22)、或滚转(18)所引起的阿贝(Abbe)误差，其未被诸如线性比例编码器或激光干涉计的一轴上位置指示器所指出。此系统以精密参考标准所校准，以使该校正仅取决于传感器读数的小改变而与传感器读数的绝对准确度无关。虽然本发明较佳为使用于具有惯性分离级(56、58)的分裂轴定位系统(50)，本发明亦可使用于典型的分裂轴或叠层级系统以降低其制造成本。